Radically Elementary IP Theory Based on Extensive Measurement

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Estratto da
ISIPTA ’15 PROCEEDINGS OF THE 9TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON IMPRECISE PROBABILITY: THEORIES AND APPLICATIONS
20–24 July 2015, Pescara, Italy

Radically Elementary IP Theory Based on Extensive Measurement

Teddy Seidenfeld, Mark Schervish, Joseph Kadane, Rafael Stern, Jessi Cisewski

pagine:	349-349
DOI:	10.4399/978885488555452
data pubblicazione:	Giugno 2015
editore:	Aracne